CINNO Research產(chǎn)業(yè)資訊，據報道，蘋(píng)果正在開(kāi)發(fā)一種可以提高M(jìn)icro-LED顯示器轉移效率的芯片質(zhì)量管控方法。與目前廣泛應用的OLED顯示器相比，Micro-LED顯示器具有許多優(yōu)勢，可能會(huì )在A(yíng)pple Watch或iPhone等未來(lái)設備中使用。
與LCD或OLED顯示器相比，Micro-LED顯示面板可以提供更好的對比度，更快的響應時(shí)間和更低的能耗。據相關(guān)報道，蘋(píng)果正在考慮將這種顯示面板用于其未來(lái)版Apple Watch或iPhone等產(chǎn)品上。
不過(guò)，就目前來(lái)看，Micro-LED技術(shù)還面臨著(zhù)很多瓶頸性問(wèn)題。正如蘋(píng)果公司在周二授予的專(zhuān)利中指出的那樣，Micro-LED顯示面板商業(yè)化的瓶頸之一就是“拾取和放置Pick-and-Place（拾取和放置）”問(wèn)題，即巨量轉移問(wèn)題。為了完成顯示面板的制造，制造商必須使用特定的“Pick-and-Place”技術(shù)完成芯片的巨量轉移。一般來(lái)說(shuō)，巨量轉移過(guò)程不可避免會(huì )因為部分芯片自身問(wèn)題而導致轉移完成后的重工，此時(shí)精確測定Micro-LED芯片的質(zhì)量情況至關(guān)重要。
這就是蘋(píng)果公司在其名為“Micro-LED芯片的測試”的專(zhuān)利中要解決的問(wèn)題。蘋(píng)果公司針對Micro-LED顯示面板制作之前芯片的質(zhì)量設計了一種非常好的監測系統。
在該專(zhuān)利的內容中，蘋(píng)果公司設計了一種特定的測試設備和體系結構，相應還提供了一種方法。通過(guò)設備和方法的使用，制造商可以在將Micro-LED芯片或行/列驅動(dòng)器轉移到顯示驅動(dòng)面板上之前對其進(jìn)行精確定位和監測識別。
該設計系統的目標是在將芯片綁定到基板上之前，檢測出質(zhì)量不合格的Micro-LED芯片。當問(wèn)題芯片被發(fā)現后，制造商便可以對此做出輕松處理，這樣就非常有助于后段的巨量轉移良率和相應的成本問(wèn)題。
“在檢測出微型驅動(dòng)器或者M(jìn)icro-LED芯片是否正常工作后，系統會(huì )相應做出決定處理，” 蘋(píng)果公司在專(zhuān)利中寫(xiě)道：“在一些實(shí)施例中，該決定還可以在對顯示器進(jìn)行過(guò)光學(xué)掃描之后做出。另外一種替代方案是，在正常工作時(shí)測量驅動(dòng)電路上的電流和/或電壓以確定芯片之間的數值水平是否符合預期（比如電壓出現特定大小的壓降）。”
在處理方案中，任何特定的微型驅動(dòng)器或Micro-LED芯片在被檢測出問(wèn)題后都會(huì )被丟棄，并用一顆無(wú)缺陷的驅動(dòng)器或Micro-LED芯片代替。蘋(píng)果公司還指出，無(wú)論何時(shí)進(jìn)行測試，系統都會(huì )使用一種映射方案，來(lái)用一些備用的微型驅動(dòng)器或Micro-LED芯片代替有缺陷的微型驅動(dòng)器或Micro-LED芯片。
再具體一點(diǎn)，該系統的測試還可以細分成不同的類(lèi)別。舉個(gè)例子，如果Micro-LED顯示器的亮度低于預期，該系統可以繼續進(jìn)行一次更嚴格的測試，以確認特定Micro-LED芯片是否出現問(wèn)題，或者微型驅動(dòng)器是否導致一定數量Micro-LED芯片性能的下降。
蘋(píng)果公司于2018年3月首次申請該專(zhuān)利，其發(fā)明人包括Mahdi Farrokh Baroughi，Bo Yang，Xian Lu和Hopil Bae。在其中，Bae先前已獲得與自適應亮度控制相關(guān)的其他專(zhuān)利。
這里，上述專(zhuān)利所描述的技術(shù)何時(shí)會(huì )應用還不能確定。實(shí)際上，蘋(píng)果每周都會(huì )申請并獲得許多專(zhuān)利，不過(guò)這些專(zhuān)利本身并不能保證一定會(huì )在將來(lái)有實(shí)際應用。
據之前的報道來(lái)看，蘋(píng)果公司正在考慮于2023或2024年，在A(yíng)pple Watch中使用Micro-LED顯示屏。另外還有報道說(shuō)，富士康正在爭取蘋(píng)果Micro-LED版 iPhone顯示屏的生產(chǎn)訂單。
